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测厚仪

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UM-1超声波测厚仪

UM-1超声波测厚仪

一、产品简介

UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值;数据存储;报警功能。

二、功能特点与技术参数

工作原理:脉冲~回波方式

测量范围:0.8~300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率:毫米-0.1英寸-0.01

探头零点校准:一点校准(用于常规的厚度测量)

两点校准:(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)

V路径修正:自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度

示值误差:±0.1mm(10mm以下)

          ±0.5%H+0.01(10mm以上)

          注:H为被测物厚度

重复性:±0.1mm

显示屏:128×64点阵液晶屏(42×57毫米),具有EL背光,可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率:常规测量时4Hz,最小值扫查时25Hz

材料声速范围:1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us

数据存储:划分5个数组,可存储500个厚度值

工作语言:中文、英文

电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示

操作时间:两节5号电池,使用时间可达200小时

自动关机:5分钟无操作后自动关机

工作温度:-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃

尺寸1:49mm×73mm×32mm(H×W×D)

重量:含电池200g

标准配置:UM系列测厚仪标配探头仪器箱两节碱性电池耦合剂


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